针对多芯/多通道光器件的测试需求，Join-MU采用了MAP900光器件测试平台，免缠绕插回损测试仪模块、多路光开关模块，极性分析模块，组成了一体化的多通道插损、回损、极性一体测试的解决方案。
Join-MU“免缠绕”技术的应用，一举解决了多芯光器件不能缠绕、需要匹配膏等问题，极大的提高了多芯/带状光纤插损、回损的测试效率。同时设备兼具江木智能极性判定技术，可在测试插回损的同时，将MPO线的极性一体测试，减少了测试工位和岗位，突破性提升了MPO生产测试的效率。江木智能专门配置的MPO应用软件可配置多种测试模式、测试报表、阈值设置功能，使得多芯光器件的测试不再纷繁杂乱，数据和设置井井有条，合理有序。
1. 24通道双波长插损、回损测试≤24秒；
2. 24通道双波长插损、回损与极性测试≤36秒
1. 节省极性检测工位
2. 节省极性检测人工
3. 减少光纤端面对接次数，降低端面损伤风险
4. 效率同竞品对比提升5-6倍
单模设备可支持最多四个测试波长：分别是1310,1490,1550,1625nm; 多模设备可支持850，1300nm两个波长。
单波长插回损测试仅需0.5S，双波长插回损测试≤1S，兼容极性测试后约1.5S； 大幅度提升生产测试效率；
支持链路式测试，A,B两点回损同时测量及多点回损测试，大幅提高测试效率；
提供实时故障通道数据观察窗口，方便清洁端面后，立即观察到数据变化；
大面积积分球设计（6*20mm 感光面积），可配置MPO/MT/FA/Jumper等各种夹具以满足各类器件测试；
RL最大动态范围为85dB（单模）；最短测试光纤长度为0.7米。
支持老化监控测试应用，提供温度曲线和数据曲线。
EXCEL\数据库\XML 等多种数据保存形式。
支持dll ，二次开发，远程数据库接口等。
1. MPO/FC/SC/LC/Uni-boot/CS/SN/MDC等各类光纤跳线测试
2. 其它光无源器件检测
3. 实验室光器件长期监测
4. 高校、科研单位
Join-MU插回损测试系统是基于高精度OTDR原理。它将脉冲光信号通过激光到光分配器传送到被测光纤，回波信号再通过光分配器返回到探测器进行接收。
MAP900由“免缠绕回损模块”、“光交换模块”和“探测器”组成的硬件架构组成。通过优化算法，大大提高了测试速度，双波长插入损耗和回波损耗测试只需1秒。
MAP900的接线方法非常简单，如下图所示:
跳线1:FC/APC~FC/APC，用于连接激光源口和光交换机的COM口。
跳线2:MPO-FC/APC Fanout，用于连接光交换模块的通道。图中为12芯MPO fanout的连接方法。
跳线3:MPO-MPO，这是DUT。通过MPO适配器与跳线2连接，另一端与积分球连接，完成插入损耗和回波损耗测试。
MAP900的回损模块采用优化的硬件电路和软件算法，使回损检测的动态范围高达80dB (SM)，可以满足APC产品回波损耗的精确测量。精确的OTDR技术可以实现0.7m的最短回波损耗测试。
江木自主研发的双腔积分球支持6 * 20mm的检测面积，可满足MPO/MXC/FA/Jumper等各种尺寸器件的测试要求。积分球采用滑块结构，方便更换各种适配器，如2.5/1.25/MPO/MT/ Uniboot/cs/sn/mdc/FA/MXC接口。与螺纹接口相比，滑块结构具有更长的使用寿命和测试一致性。 积分球还可以集成微型图像识别模块，在测试插损和回损的同时实现多核器件的极性检测。 同时，我们还可以提供外置探头形式的积分球面探头。 结合高精度和动态光功率计电路，可以实现精确的插入损耗和光功率检测。 |  积分球 |
1. 支持多语言界面，客户可修改本地语言
2. 多种保存格式:Excel, PDF, SQL，远程服务器
3. 支持二次开发，提供dll
型号
MAP900-IRL-B-48-MM1-4
| MAP900-IRL | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| X | XX | XXX | C | ||||
| 极性功能 | 通道数 | 光纤类型 | 光功率计类型 | ||||
| A | 无 | 24 | 24通道 | SM0 | 9/125G光纤 | 1 | PD |
| B | 有 | 48 | 48通道 | MM1 | 50/125G光纤 | 2 | 积分球 |
| 72 | 72通道 | MM2 | 62.5/125G光纤 | 3 | 外置探头PD | ||
| 4 | 外置探头积分球 | ||||||
| 类型 | 名称 | 参数 |
|---|---|---|
| 光功率计部分 | 探测器类型 支持类型 最大探测面积 波长测试范围 光功率探测范围 线性度 适用光纤类型 |
积分球(InGaAs) FC/SC/LC/ST/MPO/MT/FA测试 6*20mm((外置积分球)/8mm InGaAs PIN 850~1700 nm +20~-55dBm(积分球)/+5~-75dBm(InGaAs PIN) ±0.04dB(+20~-35dBm/积分球)/±0.08dB(-35~-45dBm/积分球)/±0.2dB(-45~-55dBm/积分球) 标准单模光纤及多模光纤 |
| 插损部分-单模 | 光波长 光源类型 中心波长 环形通量标准 输出功率 光源稳定性 显示精度 纤芯 |
1310nm &1550nm FP Laser ±10nm 不关注 >-14 dBm +0.01dB /15min +0.05dB /8hour 0.01dB 9/125 |
| 插损部分-双模 | 光波长 光源类型 中心波长 环形通量标准 输出功率 光源稳定性 显示精度 纤芯 |
850nm &1300nm LED +30nm 符合IEC-61280-4-1 >-25 dBm +0.01dB /15min +0.05dB /8hour 0.01dB 50/125或62.5/125 |
| 回损部分-单模 | 光源类型 回损测试范围 回损测试精度 回损标准线 线缆长度(最短) 链路测试最短长度 线缆长度(最长) |
pulsed FP Laser 12dB ~80 dB +1dB (12~65dB) 2~10 meters 2 m(末端APC)3 m(末端PC) 0.7m 2000 meters |
| 回损部分-双模 | 光源类型 回损测试范围 回损测试精度 回损标准线 线缆长度(最短) 链路测试最短长度 线缆长度(最长) |
pulsed FP Laser 12dB~55dB +1dB (12~45dB) 2~10 meters 2 m (末端APC)3 m(末端PC) 0.7m 2000 meters |
| 其它 | 光输出接口 测试效率 链路式测试 操作系统 工作电源 额定功率 开机稳定时间 建议校准周期 外观尺寸 |
FC/APC ≤1S/通道(双波长插回损测试) 支持A,B两点回损同时测量 WINDOWS 10/11 220V AC 150W 15分钟 18个月 3U*450*420mm |
