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千路光纤背板测试系统
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千路光纤背板测试系统

MAP720
千路光纤背板测试系统

支持单模,多模双波长插损,回损,路由信息检测。 系统不需要插损归零操作步骤
支持可扩容的通道的系统配置方案。支持1536路等自由配置。大幅减少光纤的插拔次数
自主研发精密OTDR和编码技术,创造性解决IL&RL&极性的测试。器件连接完毕后,全自动测试,不需进行详细的人工操作
插损测试精度为0.05dB;回损测试动态范围10~80dB
拥有Shuffle MP0软硬件自主研发经验和知识产权

产品详情

MAP720千路光纤背板测试解决方案

光背板(Optical Backplane)是一个光路矩阵,具有高达千路的输入和输出(有多种路由类型,输入输出数量可扩展),光背板每路光纤长度为1~3m。

Join-MU独创的光背板测试系统,为满足光背板的生产测试需要,而专门设计的单端精确测试系统。测试内容包括每条光路的插损、回损、以及完成每路光连接(路由/极性)正确性的验证。

光背板测试系统基于精密OTDR技术,调制编码技术,摄像头图像处理技术,实现用单端方式测试插损、回损、和极性检测。

基本原理说明

Join-MU自主研发的高精密OTDR通过调节不同脉宽和强度,用于识别被测器件的链路插损和回损,OTDR发射调制编码,用于给路由识别仪检测路由信息。

千路光纤背板测试系统

无需插损清零

基于光纤背板的复杂路由关系,使用传统光源光功率计法测试插入损耗,则其清零操作是极其复杂和繁琐的。本系统采用精密OTDR技术方式测试插入损耗,无需进行复杂的插损清零操作,大幅减少了对接操作次数,并提升了测试精度。

光背板系统发射机

千路光纤背板测试系统

光背板系统接收机

千路光纤背板测试系统

MAP720千路光纤背板测试解决方案

千路光纤背板测试系统

主要优势

支持单模,多模双波长插损,回损,路由信息检测。 系统不需要插损归零操作步骤!

支持可扩容的通道的系统配置方案。支持1536路等自由配置。大幅减少光纤的插拔次数。

自主研发精密OTDR和编码技术,创造性解决IL&RL&极性的测试。器件连接完毕后,全自动测试,不需进行详细的人工操作。

插损测试精度为0.05dB;回损测试动态范围10~80dB。

拥有Shuffle MP0软硬件自主研发经验和知识产权。

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