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矩阵式保偏器件综合测试系统

MAP900-MER
矩阵式保偏器件综合测试系统

小型化,高精度的PER模块
支持以太网口级联使用
兼顾高精度和高速率测试
可插拔模块,提升可维护性以及满足定制化搭建需求

产品详情

MAP900-MER 矩阵式保偏器件综合测试系统

MAP900-MER是一款专用于保偏光器件,尤其是光纤陀螺相关的光纤环、Y波导、调制器等性能测试的综合测试解决方案。本系统创造性的解决了偏振消光比模块小型化设计的难题,兼顾高速、高精度优势,同时支持低偏光源、高偏光源、起偏器光功率计、温度模块等,通过内置功能强大的上位机软件,使其操作更简便、高效。

矩阵式保偏器件综合测试系统

矩阵式多通道PER测试系统

高精度、高速率、小型化PER模块

1.   小型化,高精度的PER模块

2.   支持以太网口级联使用

3.   兼顾高精度和高速率测试

4.   可插拔模块,提升可维护性以及满足定制化搭建需求

矩阵式保偏器件综合测试系统

MK2615 高精度偏振消光比模块

矩阵化多应用集成

1.   支持偏振消光比模块

2.   支持光功率计模块

3.   支持光源模块(ASE,SLED等)

4.   支持起偏器模块

5.   支持温度模块

6.   可级联拓展至100通道,满足各类应用

多功能软件应用

1)  支持每个通道独立开启,关闭

2)PER、光功率数值自动采集

3)自动数据曲线查看

4)数据报表与图形导出

选型配置

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MAP900
XX X X
PER通道数 PER波段 温度模块
24 24通道 V 600~1100nm 0
48 48通道 I 1275~1635nm 1 1275~1635nm
W 800~1600nm

规格参数

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类型 名称 参数
MAP900-MER 矩阵式保偏器件综合测试系统 波长范围
PER 动态范围
PER 分辨率
PER 精确度
测量速度
连接头型号
温度模块
光功率计模块
通信接口
交流电源输入
开机热机时间
工作温度
存储温度
重量
外观尺寸
600~1100nm:1275~1635nm
30dB / 45dB
<10dB:0.001dB / =10dB:0.01dB
PER≤2dB:≤±0.1dB / PER<30dB:<+0.3dB / PER≥30dB:<+1.0dB
100mS
FC/PC
支持
支持
RS232:RJ45
220V,50Hz
15min
+10~+40C
-15~+70°C
小于10kg
根据实际模块数量定
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