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Join-MU独创的光背板测试系统，为满足光背板的生产测试需要，而专门设计的单端精确测试系统。测试内容包括每条光路的插损、回损、以及完成每路光连接（路由/极性）...
MAP900-IRLM系列插回损与极性测试系统是Join-MU在MAP900-IRLB基础上，增加精密光学平台、高清图像分析系统、大面积外置探头功率计、精密运动...
发散角的测量通过远场光斑成像法；MFD的测量通过远场扫描法（基准方法）。
MAP900-MBR 是一款专用于MT-FA类器件插损、回损、极性为一体的自动化测试系统， 是一款集光背向反射检测技术、图像识别技术、运动控制技术融合而成的光学...
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